This document specifies the procedures for determining the dry-film thickness of an organic coating on a metallic substrate (coil coating). Five appropriate methods are given in this document: a) magnetic induction; b) eddy current; c) micrometer; d) optical; e) ruggedized optical interference. The methods are applicable only to products with smooth and flat substrates, but the coating itself can be textured. In that case, for methods a) and b), the average of a series of readings will represent an average of the thickness of the organic coating, while method c) will give the maximum thickness, method d) can provide the minimum, maximum and average thickness, and e) will give the total thickness. Non-destructive continuous-web methods on measurement of dry-film thickness are only applicable on method a).

Le présent document spécifie les méthodes de détermination de l’épaisseur de feuil sec d’un revêtement organique sur un subjectile métallique (prélaquage en bandes continues). Cinq méthodes adaptées sont décrites dans le présent document : a) induction magnétique ; b) courants de Foucault ; c) micromètre ; d) optique ; e) interférences optiques renforcées (ROI). Ces méthodes s’appliquent seulement aux produits qui comprennent des subjectiles lisses et plats, le revêtement lui même pouvant être texturé. Dans ce cas, pour les méthodes a) et b), la moyenne d’une série de lectures représentera une moyenne de l’épaisseur du revêtement organique, tandis que la méthode c) donnera l’épaisseur maximale, que la méthode d) peut fournir les épaisseurs minimales, maximales et moyennes, et que la technique e) fournira l’épaisseur totale. Les méthodes non destructives sur toiles continues visant à déterminer l’épaisseur de feuil sec s’appliquent uniquement à la méthode a).

Dieses Dokument legt die Verfahren zum Bestimmen der Trockenschichtdicke einer organischen Beschichtung auf einem metallischen Substrat (Bandbeschichtung) fest. Fünf geeignete Verfahren werden in diesem Dokument angegeben: a) Magnetoinduktion; b) Wirbelstrom; c) Messschraube; d) optisch; e) robuste optische Interferenz. Die Verfahren sind nur auf Produkte mit glatten und ebenen Substraten anwendbar, die Beschichtung selbst kann aber strukturiert sein. In diesem Fall stellt bei den Verfahren a) und b) der Mittelwert einer Reihe von Messungen einen Durchschnittswert der Dicke der organischen Beschichtung dar, während Verfahren c) die größte Schichtdicke ergibt, mit Verfahren d) die kleinste, größte und durchschnittliche Schichtdicke ermittelt werden kann und Verfahren e) die Gesamtdicke ergibt. Nicht zerstörende Verfahren zum Messen der Trockenschichtdicke für Endlosbahnen sind nur bei Verfahren a) anwendbar.